Princípios básicos de XAS e XPS

Autores

  • Emerson Schwingel Ribeiro Universidade Estadual de Campinas
  • Maria Suzana P. Francisco Universidade Estadual de Campinas
  • Yoshitaka Gushikem Universidade Estadual de Campinas
  • José Eduardo Gonçalves Universidade Estadual de Campinas

DOI:

https://doi.org/10.20396/chemkeys.v0i2.9610

Palavras-chave:

Efeito fotoelétrico. Energia de ligação. Espectroscopia de raios-x. Caracterização de materiais inorgânicos.

Resumo

Os princípios básicos das espectroscopias de absorção e fotoeletrônica de raios-X (XAS e XPS) e seus principais equipamentos e métodos de tratamento de dados utilizados são introduzidos. É dada ênfase aos estudos das propriedades eletrônica e estrutural de materiais inorgânicos descrevendo alguns exemplos da literatura. Essas técnicas fornecem diferentes informações. A XPS permite a investigação da superfície, sendo principalmente usada na investigação de mudanças química e estrutural dos elementos presentes na superfície do material estudado. Por outro lado, a XAS fornece informações do volume (bulk) da amostra e sonda a ordem a curto alcance ao redor do átomo de interesse. Os exemplos descritos mostram que essas técnicas são complementares na caracterização de materiais.

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Biografia do Autor

Emerson Schwingel Ribeiro, Universidade Estadual de Campinas

Instituto de Química 

Maria Suzana P. Francisco, Universidade Estadual de Campinas

Instituto de Química 

Yoshitaka Gushikem, Universidade Estadual de Campinas

Instituto de Química 

José Eduardo Gonçalves, Universidade Estadual de Campinas

Instituto de Química 

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Publicado

2018-09-17

Como Citar

1.
Ribeiro ES, Francisco MSP, Gushikem Y, Gonçalves JE. Princípios básicos de XAS e XPS. Rev. Chemkeys [Internet]. 17º de setembro de 2018 [citado 19º de outubro de 2021];(2):1-23. Disponível em: https://econtents.bc.unicamp.br/inpec/index.php/chemkeys/article/view/9610

Edição

Seção

Espectroscopia