Iunes PJ, Palissari R, Hadler JC. Estudo de traços de partículas alfa em detetores cr-39 utilizando-se microscopias de força atômica, eletrônica de varredura e óptica. Sínteses: Rev. Eletr. SimTec [Internet]. 16º de agosto de 2016 [citado 26º de abril de 2024];1(3):87-. Disponível em: https://econtents.bc.unicamp.br/inpec/index.php/simtec/article/view/7732