Iunes, Pedro J., Rosane Palissari, e Julio C. Hadler. “Estudo De traços De partículas Alfa Em Detetores Cr-39 Utilizando-Se Microscopias De força atômica, eletrônica De Varredura E óptica”. Sínteses: Revista Eletrônica do SimTec 1, no. 3 (agosto 16, 2016): 87–87. Acessado março 28, 2024. https://econtents.bc.unicamp.br/inpec/index.php/simtec/article/view/7732.