Iunes, Pedro J., et al. “Estudo De traços De partículas Alfa Em Detetores Cr-39 Utilizando-Se Microscopias De força atômica, eletrônica De Varredura E óptica”. Sínteses: Revista Eletrônica Do SimTec, vol. 1, nº 3, agosto de 2016, p. 87-87, https://econtents.bc.unicamp.br/inpec/index.php/simtec/article/view/7732.