P. J. Iunes, R. Palissari, e J. C. Hadler, “Estudo de traços de partículas alfa em detetores cr-39 utilizando-se microscopias de força atômica, eletrônica de varredura e óptica”, Sínteses: Rev. Eletr. SimTec, vol. 1, nº 3, p. 87–87, ago. 2016.