Gaal, V. (2016) “Testador de circuitos integrados lógicos”, Sínteses: Revista Eletrônica do SimTec. Campinas, SP, 4(4), p. 143–143. Disponível em: https://econtents.bc.unicamp.br/inpec/index.php/simtec/article/view/7589 (Acessado: 27 abril 2024).