Técnicas de microscopia: microscopia ótica, microscopia de força atômica e espectroscopia confocal raman

Autores

  • Luiz Orivaldo Bonugli Universidade Estadual de Campinas
  • J. R. Castro Universidade Estadual de Campinas

DOI:

https://doi.org/10.20396/sinteses.v0i2.8594

Palavras-chave:

Microscopia de força atômica. Espectroscopia confocal Raman.

Resumo

Este trabalho apresenta três entre as diversas técnicas disponíveis de observação e caracterização de materiais a nível microscópico. Cada uma das técnicas apresentadas possui uma característica distinta em relação ao material observado podendo a mesma ser utilizada de acordo com a necessidade de cada usuário. A Microscopia Ótica, que consiste na observação direta da superfície do material, pode atingir uma escala milimétrica (10-3 m), ou seja, um aumento de até 1000X. A Microscopia de Força Atômica, constituída de um sistema que interpreta o sinal laser emitido pelo sistema e refletido pelo tip (ponta super fina) que varre uma pequena área da amostra. O sinal é então tratado por um programa computacional que o transforma em imagem topográfica da superfície que foi varrida; esta técnica possibilita a observação em escala nanométrica (10-9 m), significando um aumento de até 1.000.000.000X. A Espectroscopia Confocal Raman consiste de um sistema que registra os espectros da luz espalhada (espalhamento Raman) quando um feixe de laser monocromático incide sobre a amostra e que ao se comparar este sinal com uma base de dados de linha Raman fornece a composição química do material observado. Os resultados obtidos são imagens e gráficos que possibilitam a caracterização de materiais pela sua composição química (linhas Raman), pela sua morfologia nanoscópica (força atômica) e pela sua morfologia microscópica (ótica)

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Biografia do Autor

Luiz Orivaldo Bonugli, Universidade Estadual de Campinas

IFGW/ UNICAMP

J. R. Castro, Universidade Estadual de Campinas

IFGW/ UNICAMP

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Publicado

2016-09-12

Como Citar

BONUGLI, L. O.; CASTRO, J. R. Técnicas de microscopia: microscopia ótica, microscopia de força atômica e espectroscopia confocal raman. Sínteses: Revista Eletrônica do SimTec, Campinas, SP, n. 2, p. 218–218, 2016. DOI: 10.20396/sinteses.v0i2.8594. Disponível em: https://econtents.bc.unicamp.br/inpec/index.php/simtec/article/view/8594. Acesso em: 1 out. 2022.

Edição

Seção

Eixo 2 - Desenvolvimento de Ensino, Pesquisa e Extensão