Estudo de traços de partículas alfa em detetores cr-39 utilizando-se microscopias de força atômica, eletrônica de varredura e óptica

Autores

  • Pedro J. Iunes Universidade Estadual de Campinas
  • Rosane Palissari Universidade Estadual de Campinas
  • Julio C. Hadler Universidade Estadual de Campinas

DOI:

https://doi.org/10.20396/sinteses.v1i3.7732

Palavras-chave:

Traços alfa. CR-39. MFA. MEV. Espectrometria alfa. Microscopia óptica

Resumo

O objetivo deste trabalho é o estudo das propriedades dos traços de partículas alfa em detetores do tipo CR-39. As diferentes técnicas usadas para análise foram Microscopia de Força Atômica (MFA), Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e Microscopia Óptica (MO). Os diâmetros dos traços foram medidos por estas técnicas sob diferentes tempos de ataque químico (condições do ataque foram 6.25 M NaOH à 70°C). Os únicos traços considerados foram aqueles com incidência normal e suas profundidades foram medidas por MFA. Os diâmetros dos traços foram estimados por extrapolação da curva de ataque químico. Considerou-se um modelo geométrico simplificado para a evolução do traço com o tempo de ataque e pode-se estudar a função resposta, que caracteriza o defeito estrutural local causado pela partícula e todos os parâmetros associados com o ataque químico. Além disso, foram feitas comparações entre todas as técnicas e a diferenciação entre traços e defeitos.

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Biografia do Autor

Pedro J. Iunes, Universidade Estadual de Campinas

UNICAMP/IFGW

Rosane Palissari, Universidade Estadual de Campinas

UNICAMP/IFGW

Julio C. Hadler, Universidade Estadual de Campinas

UNICAMP/IFGW

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Publicado

2016-08-16

Como Citar

IUNES, P. J.; PALISSARI, R.; HADLER, J. C. Estudo de traços de partículas alfa em detetores cr-39 utilizando-se microscopias de força atômica, eletrônica de varredura e óptica. Sínteses: Revista Eletrônica do SimTec, Campinas, SP, v. 1, n. 3, p. 87–87, 2016. DOI: 10.20396/sinteses.v1i3.7732. Disponível em: https://econtents.bc.unicamp.br/inpec/index.php/simtec/article/view/7732. Acesso em: 28 set. 2022.

Edição

Seção

Eixo 2 - Área de Exatas e Tecnológicas