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Leis de escala e dimensão fractal em filmes finos
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Palavras-chave

Voltametria
Microscopia
Física

Como Citar

Cruz, T. G. S. (2000). Leis de escala e dimensão fractal em filmes finos: microscopia de força . Physicae, 1(1), 29–36. https://doi.org/10.5196/physicae.1.4

Resumo

Neste trabalho, superfícies de filmes finos usados como eletrodos são analisadas por duas técnicas diferentes: Voltametria Cíclica e Microscopia de Força Atômica. A partir de um exemplo da literatura, a dimensão fractal da superfície de filmes de óxido de índio e óxido fluoreto de estanho são obtidas por estas duas técnicas e os resultados mostrados como concordantes entre si. Isto torna tais técnicas complementares no estudo destes filmes que podem ser aplicados em diversos dispositivos tecnológicos.

https://doi.org/10.5196/physicae.1.4
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