@article{Ribeiro_Francisco_Gushikem_Gonçalves_2018, place={Campinas, SP}, title={Princípios básicos de XAS e XPS}, url={https://econtents.bc.unicamp.br/inpec/index.php/chemkeys/article/view/9610}, DOI={10.20396/chemkeys.v0i2.9610}, abstractNote={<p>Os princípios básicos das espectroscopias de absorção e fotoeletrônica de raios-X (XAS e XPS) e seus principais equipamentos e métodos de tratamento de dados utilizados são introduzidos. É dada ênfase aos estudos das propriedades eletrônica e estrutural de materiais inorgânicos descrevendo alguns exemplos da literatura. Essas técnicas fornecem diferentes informações. A XPS permite a investigação da superfície, sendo principalmente usada na investigação de mudanças química e estrutural dos elementos presentes na superfície do material estudado. Por outro lado, a XAS fornece informações do volume (bulk) da amostra e sonda a ordem a curto alcance ao redor do átomo de interesse. Os exemplos descritos mostram que essas técnicas são complementares na caracterização de materiais.</p>}, number={2}, journal={Revista Chemkeys}, author={Ribeiro, Emerson Schwingel and Francisco, Maria Suzana P. and Gushikem, Yoshitaka and Gonçalves, José Eduardo}, year={2018}, month={set.}, pages={1–23} }