Mapeamento de luminescência em STM
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Palavras-chave

LT-STM
CCD
Microscopia

Como Citar

ADAME, Lucas; ZAGONEL, Luiz; AUAD, Yves; ROMÁN, Ricardo. Mapeamento de luminescência em STM. Revista dos Trabalhos de Iniciação Científica da UNICAMP, Campinas, SP, n. 27, p. 1–1, 2019. DOI: 10.20396/revpibic2720192507. Disponível em: https://econtents.bc.unicamp.br/eventos/index.php/pibic/article/view/2507. Acesso em: 19 abr. 2024.

Resumo

A microscopia de varredura de tunelamento utiliza de uma ponta metálica aguda próxima da superfície que quer se observar para que a probabilidade de tunelamento de elétrons seja alta o suficiente para haver uma corrente de tunelamento na ponta metálica. A emissão de luz ocorre com a ocupação de estados desocupados pelos elétrons de tunelamento. Esta luz emitida é refletida com a ajuda de um espelho parabólico para uma fibra óptica, que por sua vez funciona como guia de onda para levar a luz ao espectrômetro, e posteriormente em uma câmera CCD. Neste projeto foi trabalhada a sincronia entre o movimento da ponta do STM com a aquisição de espectros com a câmera CCD, de modo a adquirir um espectro para cada píxel da imagem obtida pelo STM.

https://doi.org/10.20396/revpibic2720192507
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Referências

Chao Zhang et al. Jpn. J. Appl. Phys. 2015, 54 08LA01.
Horiba Scientific, Syncerity CCD Detection System Operation Manual, 2014.
RHK Technology, R9 Control System User Guide v5.5, 2015
CCD Noise Sources and Signal-to-Noise Ratio, Hamamatsu. Disponível em http://hamamatsu.magnet.fsu.edu/articles/ccdsnr.html. Acesso em 03/07/2019.

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